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VLSI DESIGN AND TEST


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Sinopse

This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.

Detalhes do Produto

    • Ano de Edição: 2017
    • Ano:  2018
    • País de Produção: Canada
    • Código de Barras:  2001120791746
    • ISBN:  9789811074707

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