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VLSI DESIGN AND TEST


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    Sinopse

    This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.

    Detalhes do Produto

      • Ano de Edição: 2017
      • Ano:  2018
      • País de Produção: Canada
      • Código de Barras:  2001120791746
      • ISBN:  9789811074707

    Avaliação dos Consumidores

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