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ELECTRON MICROSCOPY AND ANALYSIS 1997

ELECTRON MICROSCOPY AND ANALYSIS 1997


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    Sinopse

    These proceedings celebrate the centenary anniversary of the discovery of the electron by J J Thomson in Cambridge, and the fiftieth anniversary of this distinguished Institute group. Papers on the early history of electron microscopy (P Hawkes), the development of the scanning electron microscope at Cambridge (K Smith), electron energy loss spectroscopy (L M Brown), imaging methods (J Spence) and the future of electron microscopy (C Humphreys) are included. They are a useful reference for workers using microscopes in all areas of physics, materials science, metallurgy and surface science, to gain an overview of developments in our understanding of materials microstructure, and of advances in microscope interrogation techniques. Electron imaging, electron energy-loss and X-ray analysis, scanning probe and electron beam microscopies, and a wide range of applications of advanced techniques are covered in this volume.

    Detalhes do Produto

      • Edição:  1
      • Ano de Edição: 1997
      • Ano:  1997
      • País de Produção: United States
      • Código de Barras:  9780750304412
      • ISBN:  0750304413
      • Encadernação:  CAPA DURA
      • Altura: 24.80 cm
      • Largura: 17.10 cm
      • Nº de Páginas:  708

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