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INTRODUCTION TO SURFACE ANALYSIS BY XPS AND AES


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    Sinopse

    'An Introduction to Surface Analysis by Electron Spectroscopy' is a clear and accessible introduction to the key spectroscopic techniques used in surface analysis. Focusing on the two most popular surface science techniques; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and Auger electron spectroscopy (AES), the book will be of benefit to both students and users in industry who require a rapid grounding in the methods before carrying out their own analysis. Starting with an introduction to the basic concepts of electron spectroscopy, the text moves on to explain underlying physical principles, discusses the instrumentation employed and looks at the interpretation of the resulting spectra. The latest material on angle resolved XPS, surface engineering and complimentary methods have been included to provide an up-to-date account of these widely used techniques.

    Detalhes do Produto

      • Edição:  1
      • Ano:  2003
      • País de Produção: United States
      • Código de Barras:  9780470847138
      • ISBN:  0470847131
      • Encadernação:  BROCHURA
      • Complemento:  NENHUM
      • Nº de Páginas:  224

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