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REFLECTION HIGH-ENERGY ELECTRON DIFFRACTION


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    Sinopse

    'Reflection high-energy electron diffraction' (RHEED) is the analytical tool of choice for characterizing thin films during growth by molecular beam epitaxy, since it is very sensitive to surface structure and morphology. This book serves as an introduction to RHEED for beginners and describes detailed experimental and theoretical treatments for experts.

    Detalhes do Produto

      • Ano de Edição: 2004
      • Ano:  2004
      • País de Produção: United States
      • Código de Barras:  9780521453738
      • ISBN:  0521453739
      • Encadernação:  CAPA DURA
      • Altura: 24.70 cm
      • Largura: 17.40 cm
      • Nº de Páginas:  366

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